
電子器件(jiàn)所能承受靜電破壞的靜電電壓是多少,相信大家都不知道吧,下麵我們(men)就一起來看看吧。
以下是一些參考資料中給出的數(shù)據:
器件類型 | 靜電破壞電壓(V) | 器件(jiàn)類型 | 靜電破壞電壓(V) |
VMoS | 30~1800 | OP-AMP | 190~2500 |
M0SFET | 100~200 | JEFT | 140~1000 |
GaAsFET | 100~300 | SCL | 680~1000 |
PROM | 100 | STTL | 300~2500 |
CMoS | 250~2000 | DTL | 380~7000 |
HMOS | 50~500 | 肖特基二極管 | 300~3000 |
E/DMOS | 200~1000 | 雙極型晶體管 | 380~7000 |
ECL | 300~2500 | 石英壓電晶體 | <10000 |
從(cóng)上表可見大部分器件的靜電破壞電(diàn)壓都在幾百至幾千伏,而在幹燥的(de)環境中(zhōng)人活動所產(chǎn)生的靜電可達幾千伏到幾(jǐ)萬伏。
要想獲得某個元器件的所能能承受的靜(jìng)電電壓要通過試驗才(cái)能測得。按照國內標準,一般(bān)使用靜電放電敏感度測試儀:
電子元器件靜電敏感度(dù)的試驗主(zhǔ)要用ESS-6008/ESS-6002半導體靜電放電模擬試驗器,而用電子元(yuán)器件組(zǔ)裝成組件、整(zhěng)機的電子設備靜電試驗則用(yòng)ESS-S3011A/ESS-B3011A/ESS-L1611A靜電放電模擬試驗器來做試驗。
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