怎樣做（zuò）好eft/esd問題（tí）的測（cè）量和定位

在進行（háng）標準的eft/esd測試時（shí），把幹（gàn）擾脈衝從（cóng）設備外部耦合（hé）到內部，同時監視設備的工作狀態。如果（guǒ）設備沒有通（tōng）過這些標準的測（cè）試，測試本身幾乎不能提供任何如何解決問題的信息。 怎樣做好eft/ esd問題的測量和定位，並且要想定位被測物(eut)對突發幹擾敏感的原因和（hé）位（wèi）置，必須進行信號測量。但（dàn）是如（rú）果采用示波器進行測量的話，eut內部的幹擾會產生變化。例如圖1中（zhōng），使用金屬導線的探頭連接到示波器，會形成一個額外的幹擾電流路徑，從而影響測試結果，很難定（dìng）位產（chǎn）生esd/eft問題的原因。

圖1 用示波器（qì）測量eft/esd 怎樣做好eft/ esd問題的測量和定位，我們（men）先要了解eft/esd幹擾電路正常工作的機（jī）理。 在（zài）進行eft/esd等抗擾度測試時（shí），需（xū）要把相應的（de）突發幹擾施加到eut的電源線，信（xìn）號線或者機箱等位置。幹擾電流（liú）會通過電纜或者機箱，流（liú）入eut的內部電路，可能會引起eut技術指標的下降，例如幹擾音頻或視（shì）頻信號（hào），或者引起通信誤碼等；也可能引起係統複位（wèi），停止工作，甚至損壞器件等。 電子產品的抗幹擾特性，取決於其（qí）pcb設（shè）計和（hé）集成電路的敏（mǐn）感（gǎn）度。電路對eft/esd信號敏感的位（wèi）置，一般能被很好的定位。形成這些"敏（mǐn）感點"的原因，很大程度上取決於gnd/vcc的形狀以（yǐ）及集成電路的類型和製造商（shāng）。 實踐（jiàn）發現，怎樣做好eft/ esd問題的測量和定位，產生eft/esd問題的主要（yào）的原因是，幹擾電流（liú）的主要部分會流入低阻抗的電源係統。幹擾電流（liú）能通過直接的連接進入gnd係統，再由線路連接，從另外一個地方耦合出來；幹擾（rǎo）電流也能通過直接連接進入gnd係統（tǒng），然後通過和金屬塊(例（lì）如機箱)等（děng）物體的容性耦合方式，以電（diàn）場的方式(場束)耦合（hé）出（chū）來。

圖2中，幹擾（rǎo）脈衝電流（liú）i通過電纜（lǎn）或者電容滲透到pcb內。由幹擾電流（liú）產生電場幹擾(電（diàn）場強度e)或者磁場幹擾(磁場（chǎng）強度b)。磁脈衝場b或電脈衝（chōng）場e是影響pcb主要的基本元素，一般來說，敏感點要麽僅對磁場敏感（gǎn），要麽僅對電場敏感。 幹擾電流i通過電源線注入（rù）到設備（bèi）內部。由於旁路電（diàn）容c的存在，一部分電流ia離開了被測物，內部的幹擾（rǎo）電流ii被減少了。圖中所示的由幹擾電流ii產生的磁（cí）場b會影響它周圍幾厘米範圍內（nèi）的電路模（mó）塊，一般電路模塊內隻會（huì）有很少的信（xìn）號線會對（duì）磁場b敏感。 需要注意，磁場不僅僅由電源線電纜上幹擾電流i以及排狀電纜上的電流產生，旁路電容c的電流路徑以及內部gnd和vcc上的電（diàn）流，會擴（kuò）大（dà）幹擾（rǎo）範圍。 在電源係統(主要是gnd)上流動的幹擾電流，產生的很強（qiáng）的寬頻譜電磁場，能幹擾其周（zhōu）圍幾厘米範圍（wéi）內（nèi）的集成電路或者信號線，如（rú）果敏（mǐn）感的信號線或者器件，例如複（fù）位信號、片選信號、晶體等，正好放置在幹擾電流路（lù）徑周圍，係統就可能由此引起（qǐ）各種不穩定（dìng）的現象。 一般情況下，一塊pcb上隻會存在（zài）少量的敏感點，而且（qiě）每個敏感點也會被限製在很少的區（qū）域。在把這些敏感點找（zhǎo）出來，並采取適當的手段後，就能提高產品的抗幹擾性能。 由此可見，怎樣做好eft/esd問題的測量和定（dìng）位，為了（le）定位eut不能通過eft/esd測試的原因（yīn），我們就必須（xū）首先找出這些突發幹擾在係統內部（bù）的電（diàn）流路徑，再找出（chū）該路徑周圍存在哪些敏感的信號線和器件(敏感點)，之後可以采取改善接地係統以改變電流路徑，或者移動敏（mǐn）感信號（hào）線和器件的位置等方法（fǎ），從根（gēn）本上以低的成本解決eft/esd問題。