用GTEM小（xiǎo）室做電磁兼容（róng）測試產（chǎn）品的輻射抗擾度和輻射騷擾發（fā）射的測量試驗

作（zuò）為替（tì）代戶外開闊（kuò）場（chǎng）而建立的電波（bō）暗（àn）室，因其（qí）性能完善而獲得了廣泛的應用，但由於造（zào）價和必須配備的設備昂貴，阻礙了（le）它向中小企業的發展。這裏介紹的 GETM小室又（yòu）稱吉赫芝（GHz）橫電磁波室則是近十幾年才發展（zhǎn）起來（lái）的新型（xíng）電磁兼容測試（shì）設（shè）備，它的工作頻率範（fàn）圍可以從直流至數 GHz以（yǐ）上，內部可（kě）用場區較大，尤其（qí）可貴（guì）的是小室本身與其配套設備的總價不算過於昂貴，能為大多數企業所接受。因此 GTEM小室國內取得了長足發展（zhǎn），成為（wéi）企業對（duì）於外型尺寸（cùn）不算太大的設備（bèi）開展射頻輻射電磁場抗擾度試驗的首.要選擇方案。

1、GTEM小室簡介 
GTEM小室是根據同軸及非對稱矩形傳輸線（xiàn）原（yuán）理設計而成的（de）設備。為（wéi）避免（miǎn）內部（bù）電磁波的反射和諧振，GTEM小（xiǎo）室在外形上被設計成尖-錐.形，其輸入端采用 N型同軸接頭，隨後（hòu）中心導體展平成為一塊扇（shàn）形板（bǎn），稱為芯板。在（zài）小室的（de）芯板和底板之間形成矩形均勻場區。為了使（shǐ）球麵波（嚴格（gé）地說，由 N型接頭向 GTEM小室（shì）傳播的是球麵波，但由於（yú）所設計的張角（jiǎo）很小，因而該球（qiú）麵波近似於（yú）平麵波）從（cóng）輸入端到負載端有良好的傳輸特性，芯板的終端因采用了分布式電阻匹配網絡，從而成為無反射（shè）終端。GTEM小室的端麵（miàn）還貼有吸波材料，用它對（duì）高-端（duān）頻率的電磁波（bō）作進一步吸收。因此在小室的（de）芯板和底板之間產生了一個均勻場強的測試區域。試驗時，試品被置於測試（shì）區中，為了做到不因（yīn）試品置入而過於影響場的均勻（yún）性，試品以不超過芯板和底板之間距離的1/3高度為宜。 

2、工作原理 
GTEM小室中的（de）電場強（qiáng）度（dù）與從 N型接頭輸入信號電壓 V成（chéng）正比，與芯板距底板垂直距離 h成反比： E = V/h 在 50Ω匹配的係統裏，芯板對（duì）底板（bǎn）的電壓與 N型接頭的信（xìn）號輸入功率之間的關係滿足 V =（RP）1/2 =（50P）1/2故場強（qiáng） E =（50P）1/2 / h 如考慮實測值與（yǔ）理（lǐ）論值之間的差異，上式還應（yīng）乘一（yī）個係數 k，因此實際的電場強度是
E = k（50P）1/2 / h 
從上式（shì）可見（jiàn），若（ruò）在 GTEM小室注入同樣的功率，芯板的位置距底板的距離越近（h值越小），則可獲得較大的場強；若產生同（tóng）相的場強，較大空間處（ h值越大）需（xū）要（yào）的輸入功亦（yì）較大。
上（shàng）述結論表明，對於較小的試品，我們可以把試（shì）品放在 GTEM小室中比較靠前的位置，這樣用比（bǐ）較小的（de）信號輸入功率，就可（kě）以得到（dào）足夠高的電場強度。注意，試品的高度不能超過選定位置芯板與底板間距的 1/3。 

3、GTEM小室在（zài）電磁兼容測試中的應用 

3.1 射頻（pín）輻（fú）射電磁場抗擾度試驗采用 GTEM小室做射頻輻射電磁場抗擾度試驗的優點：

GTEM產生的（de）電場強度要（yào）遠大於天線產生的場（chǎng）強，所以用比較小的射頻功率放大（dà）器可以產生很強的電場，使得整個（gè）測試係統的價格大大降低。這對尺寸（cùn）不太大的設備來（lái）說，是一個非常好的射頻（pín）輻射電磁場（chǎng）抗擾度（dù）試驗（yàn）方案。

GTEM小室做射頻輻射電磁場抗擾度試（shì）驗不需要用天線，所以可方便地用於自動測試，大大減少（shǎo）了測試時間，也降低了對試驗人員（yuán）的技術要求。

當信號源經過放大後注入到 GTEM小室的一端（通過 N型同軸（zhóu）接頭），就能在（zài）芯板和底板之間形成很強的均勻電磁場（chǎng），放（fàng）置在被測件附近的（de）電場監（jiān）視（shì）探頭監測此場強，再經由計算機得到輸入功率值，直接調節信號源以求達到所（suǒ）需（xū）求的場（chǎng）強值。測控軟件控製信號源以一定的步長（zhǎng）進行（háng）輻射場的頻率掃描。另有視頻監視器（攝像頭安裝在（zài） GTEM小室裏麵，圖 4中未畫出，試驗人員（yuán）在 GTEM小室外通過監視器）觀測試品在射頻電磁場幹擾下的工（gōng）作（zuò）情況。
操（cāo）作方法：

①將試品及場探頭置於 GTEM小室內；
②外接（jiē）信號源，通過功率放大器，在 GTEM小室內建立均勻（yún）電場；
③確定測試頻率範圍及調製方法和調製深度；
④調整信號源輸（shū）出電平（注（zhù）意，切勿超過功率放（fàng）大器允許的最大輸入電平）；
⑤通過場（chǎng）強監視計監測 GTEM小室的場強，使之達到（dào）所需的強（qiáng）度；
⑥重複③～⑤步驟，觀測確定被試品的電（diàn）磁輻射敏感（gǎn）度。

3.2 試品的電磁（cí）騷擾輻射發射測（cè）試係（xì）統
試品的電磁騷擾輻射發射值測試在理論上也能在 GTEM小室內（nèi）進行，這時小室內芯板和底板就代替暗室（shì）測試中的天線接收試品工作過程中產生的輻射（shè）騷擾。GTEM小室的（de） N型接（jiē）頭接幹擾接收機，通過（guò）幹擾（rǎo）接收機便能測試試品工作過程中電磁騷擾的輻射發（fā）射情況。再通（tōng）過計算機和處（chù）理（lǐ）軟件，以定出（chū）試品輻射發射的測試結果。注意，這裏存在一個在 GTEM小室中的測試結果和開闊場或電（diàn）波暗室測試結果的（de）比對問題，從中找出規律（建立數學模（mó）型），進行必（bì）要的修正，而這也正是 GTEM小室測試軟件所要（yào）解決的問題。另外，試品在GTEM小室中（zhōng）擺放的位置不同，造成（chéng）芯板與底板之間相（xiàng）對距離的不同，也將是導致測試結果不同的關鍵因素，試驗（yàn）人員務必給以充分注意。

在 GTEM小室內做試品（pǐn）電磁騷擾輻射發射試驗的操作方法如下： 

①將被試品置於 GTEM小室內； 
②外接（jiē）幹擾接收機，接收試品的輻射騷擾電（diàn）平輸出； 
③根（gēn）據測試標準要求設置掃（sǎo）描頻率的（de）範圍和檢波方式及分（fèn）辨率帶寬； 
④幹擾接收機測試被（bèi）試品的輻射騷擾電平值； 
⑤通過計算機及軟件進行數據處理，得到最終測試結（jié）果。

注意，用 GTEM小室無論是做射頻輻射（shè）電磁場抗擾度試（shì）驗，還是做試（shì）品本身（shēn）工作中所產生的輻射電（diàn）磁騷擾的發射試驗，都有一個極化問題（在開（kāi）闊場和電波暗（àn）室中（zhōng）做測（cè）試，是通過改變擺放天線的（de）方（fāng）向來實現的）。在 GTEM小室裏的（de）芯板和底板扮演了天線的角色（sè），它們的位置是不能變化（huà）的，因此要想改變電場的極化方向，隻能通過人為地改變試品相對芯板和底板的擺放方向來實現了。