
為了解決市場上出現的問題 高頻噪聲模擬器(qì)(使用半導體繼電器) INS-S220 / S420 此設(shè)備是模擬類似(sì)開關(guān)元件觸點之間的放電,電子馬達產生的電弧(hú)放電(diàn)等(děng),上升時間 很快,高頻率的噪聲,來評價電子設備的抗幹擾(rǎo)能力的測試設備。 因為包含測試脈衝中的頻率成分的脈衝(chōng)寬(kuān)度很寬,另外通過改變脈衝的寬度,也可以 改變脈衝能量的強度,能實現市場上(shàng)對於噪聲問題的再(zài)現性很高的噪聲(shēng)測試。 解決市場上出現的問題 高頻(pín)率、能量可調試驗脈衝 脈衝寬度小的50 ns ~ 100 ns程度的高頻噪(zào)聲,能量是比較小,但是短時間內2次的波形(xíng)上升以及下降造(zào)成的電壓變動,急速變動時發生的電磁場的耦合 可以影響電子回路。 另外,脈(mò)衝寬度寬(kuān)的800 ns ~ 1000 ns 的高頻噪聲,因(yīn)為能量(liàng)比較(jiào)大,能容易(yì)地(dì)給(gěi)回路施加很大的電壓變動。 高頻噪聲測試與國際標準IEC 61000-4-4群脈衝測試(shì)相比較,因為上升(shēng)時間快,頻(pín)率成分高是它的特征。這樣對EUT進行施加幹擾時, 更容易侵入電路,更容(róng) 易影響電子回路。 還有(yǒu),由於(yú)高頻噪聲的(de)脈衝(chōng)寬度不同,包含(hán)的頻(pín)譜(pǔ)的成分及強(qiáng)度也不同(tóng),建(jiàn)議(yì)用(yòng)不用脈衝寬度(dù)的條件進(jìn)行多種類的(de)測試。
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