
組建一個電磁兼容實(shí)驗室的方法(fǎ)
產品必須符合EMC(電磁兼容)要求,歐洲規定:銷售違反電磁兼容(róng)法令(89/336/EEC)的產品將麵臨(lín)高(gāo)額罰款,因此,商家越來(lái)越重視產品的電磁兼容性問題,為了降(jiàng)低成本,要根據公司需求和規模的(de)不同,組建一個EMC實驗室,本文介紹建設公司內部EMC測試設(shè)備的優點(diǎn)、缺點和(hé)方法。
組(zǔ)建一個電磁兼容實驗室(shì)的最小需(xū)求取決(jué)於(yú)公(gōng)司的需要和財務狀(zhuàng)況(kuàng)。通常,公司將(jiāng)力(lì)求節省經費(在(zài)設備和人力資源兩(liǎng)方麵(miàn)),並盡量降低(dī)風險。但有一點(diǎn)必須明白,世界上不會有“低成本、低風(fēng)險和低EMC技術”這樣(yàng)的好事。工程師必須掌握高度的技巧,才(cái)可能設計出具有相當性能的低成(chéng)本設備。精度越(yuè)低的產品(pǐn),其風(fēng)險也會越高。
在組建(jiàn)一個公司內部EMC實驗室時,無論其規模大小如何,都必須遵從一些最起碼的指導原則。首先,建成EMC實驗(yàn)室的房間或地方必須潔淨,沒(méi)有無關物品(pǐn),完(wán))全專用於EMC測量。隻要條件許可,絕對需要一個由(yóu)金屬製成並可靠連接大地的地參考平麵;如果條件不允許(如房間不在第一層(céng)),至少應該接保護地係(xì)統。實驗室內的所有金屬物體必須可靠接地(dì)或予以清除。電源係統必須(xū)“淨(jìng)化”(在電源進入EMC實驗室之前的某處正確接入線濾波器)。
1)傳導(dǎo)發射測試---需要一台頻譜分析儀(或EMI接收器)、電纜和LISN(線阻抗穩(wěn)定網絡,手工製作或外購),如果可能的話,還應該有一個屏蔽房間(最起碼有一個屏蔽帳篷)和一張距地麵(miàn)80cm的絕緣桌。
2)輻射發射測試---需要同樣的頻譜分析儀或EMI接收器、一副天線、電纜(lǎn)和OATS(開放區域測試場地或(半)電波暗室);為測量幹擾功率而製(zhì)作或外購的吸收鉗(qián)。
3)諧波測試(與閃爍測試)---如(rú)果要進行完)全兼容測(cè)試,則需要(yào)專用設備(bèi)(專用諧波分析儀);但如果僅為(wéi)評估(gū)的話,一台便攜式諧波分析儀甚至一台能進行FFT評估的示波器就足夠了。
4)ESD(靜電釋放)抗擾度測試---隻有ESD槍才能可(kě)靠評估該(gāi)項測試的結果。
5)輻射電磁場抗擾(rǎo)度測試(shì)---需要與輻射發射測(cè)試類似的設備,此外還需要信號發生(shēng)器、放大器、衰減器、場強儀,可能還需要一台計算機(jī)。
6)傳導騷擾抗擾度測試---需要的設備與1)和(hé)5)類似,另外再加上CND(異種耦合(hé)解耦網絡),但不需要天線。
7)電快速瞬變(EFT/Burst)抗擾度測試。
8)浪湧抗擾度測試。
9)電源頻率磁場抗擾度測試。
10)電壓(yā)驟降、短時中斷(duàn)與電壓變化抗(kàng)擾度(dù)測試。從7)到10)的最後四項(xiàng)測試需要專用設備,這些設備可從多個廠商買到。
值(zhí)得注意的(de)是,測量(liàng)設備的製造商和經銷商通常提(tí)供執行不同測試的包裝(zhuāng)和(或)全套裝(zhuāng)置,以及有關如何按照(zhào)最新標準執行這些測試的指(zhǐ)導甚至(zhì)培訓。請向最近的當地銷售代表查詢設備(bèi)的性(xìng)能和功用。大部分情況下,設備都(dōu)有根據標準需求預(yù)設的測試程序,請首先閱讀(dú)說明手冊。
公司內部預兼容測試
預兼容測試並無定義,但最起碼我(wǒ)們有理(lǐ)由假定測試必須在盡(jìn)可能接近標準要求的條件下進行。
1)傳導發射(shè)的測試多年來,電子產品製造商遇到的最困難的問題可(kě)能就是在傳導發射方麵(miàn),因此(cǐ)本文首先就此進行討(tǎo)論。傳導(dǎo)發射的測試裝置。這個(gè)裝(zhuāng)置是(shì)根據CISPR22(EN55022)組建的,而且使用的設備必須符(fú)合CISPR16-1的要求。該裝置主要包括:EUT(被測設備),如果它是台式的,必須安(ān)放在一個距地麵80cm高的絕緣桌上;輔助設備(外設),按(àn)正常使用方式連接,未使用的輸入和輸出必須正確端接,多餘的(de)電纜必須截短,或繞成(chéng)直徑30~40cm的一卷。頻譜分析儀(或EMI接收器)在0.15~30MHz的頻率範圍內必須具有9kHz的分辨率帶寬(RBW)。測量過程在CISPR16-1和產品規範標準中有詳細描述,如果(guǒ)正確執行,其結果與第三方實(shí)驗室的測試將不會有太大出入。
2)幹擾功率測試(shì)幹擾功率測試(30~300MHz)方法與1)有點類似,但此時號將來自吸收鉗(而(ér)非LISN)。CISPR 16-1和(hé)產品係列標準詳細介紹了測試裝置。概括地說,就是將吸收鉗放置(zhì)在被測電纜(lǎn)(幹線、直流、音頻(pín)/視頻)周圍,並沿著(zhe)一根6m長線移動,以查找每個頻率點上的最大發射值。輻射發射測試裝置。雖然(rán)這項測試(shì)看起來似乎要比前一項測試複雜一些,但實際上並不特別困難(nán)。由圖可見,EUT被安放在(zài)一張絕緣桌麵的轉台(tái)上,距(jù)地麵80cm,以便在測試(shì)過程中通過轉動(dòng)EUT來找出最(zuì)大發射值。天線(xiàn)安裝在(zài)天(tiān)線竿上,並可在(zài)1~4m之間移動,目的同樣是為了找出最大(dà)發射值。EUT與天線中(zhōng)心(上有標(biāo)記)的距離為3m或10m。接收器裝置同樣按照CISPR16-1製作,在30~1000MHz的接收範圍內其分辨率帶寬必須為(wéi)120kHz。針對(duì)輻射發射(shè)測量,接收器可能(néng)有一個設定。對於上述的所有(yǒu)測量,需要注意在評估結果時必須將一些修正因子納入考慮(lǜ)。首先,對於所有測量裝置,±;4dB為接受的不確定區間,這一點在CISPR16-1的附錄L中有所闡述。其次,電纜衰減和連接器衰減也必須予(yǔ)以考慮。但是除此之外,還有更多因素必須(xū)予以考(kǎo)慮。對於傳導發射,必須考慮LISN的阻抗偏(piān)差及其容限。不過,它的最大誤差隻有2~4dB。吸(xī)收鉗的情況就不一(yī)樣了,其衰減在14~22dB之間,平均17dB。輻射發(fā)射測試(shì)中的因子最大,其NSA(歸一化位置衰減)-24~24dB。在這種情況下,無(wú)法進行任何近似,而且在執行(háng)測(cè)試時還必須使用天線因子。此外,根據(jù)設計(jì)實踐經驗,在將產(chǎn)品送往第三方實驗室進行(háng)測試之(zhī)前,還應當額外預留6dB的設計餘量。
3)諧波和閃爍(shuò)測試諧波和閃爍測試沒有環境方(fāng)麵的(de)要求。隻需將EUT連接到(dào)諧波分析儀的(de)電(diàn)源入口,並根據廠(chǎng)商的說明和標準的(de)要求(qiú)執行測試即(jí)可。同樣,測試設備將(jiāng)包含一些已有(yǒu)的(de)設置,但工(gōng)程師必須確保這些測試設(shè)置符合自己產品的標準要求。如果評估時使用其(qí)他方法(如便攜式電源諧波分析儀),請仔細閱讀標準要求,然後再評估測量結(jié)果。
4)ESD抗擾度測試
ESD抗擾度測試對於(yú)大型設備可能並不是很(hěn)重要。但在今天這個各種產品普遍小型化的時代,ESD測(cè)試已成為大部分設備的“關鍵"; EMC測試之一,例如對便攜式計算(suàn)器、MP3和MD播放器、USB存儲棒、音(yīn)頻設備等等。其測試裝(zhuāng)置。由圖可見(jiàn),EUT仍然安放在一張絕緣桌上(shàng),位於HCP(水平耦合平麵,由一種金屬傳導材料製成(chéng))上,並通過一個絕緣抗靜電襯墊與其隔離。VCP(垂直耦合平麵)和HCP分別連接到地(dì)參考平麵,每個(gè)連接端各使用一隻470kΩ的電(diàn)阻。對於EUT的每個側麵和VCP、HCP,以及EUT上每個用手能觸摸到的金(jīn)屬表麵,分別使用鋒利尖)端進行接觸放電(直接放電),通常每個極性5次。對(duì)於機箱的所有塑料部分,則利用圓形尖)端(duān)進行空氣放(fàng)電(diàn)(間接放電)。
5)輻射(shè)電磁場抗(kàng)擾度的測試輻射電磁場抗擾度的(de)測試裝(zhuāng)置與輻射發射測試非常類似,但是在這項測試中,信號發生器和功率放(fàng)大器將饋送給天線,以便在EUT附近產生(shēng)“均勻電磁場"(±6dB)(在頻率範圍80~1000MHz、AM、1kHz、80%調製深度下(xià)為3V/m或10V/m)。需要注意的是,不同產品的頻率範圍(wéi)也不相同。
6)傳導騷擾抗擾度(dù)測試
傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試的目的是(shì)在EUT端口(kǒu)輸入建立3V電平(有效值,150kHz~230MHz、AM、1kHz、80%調製深度(dù))。信號發生器和功率放大器必須提供足夠的(de)功率,以便(biàn)CDN能將信號耦合到被測線。由於測試項目3)、7)、8)、9)、10)使用的是高度專業化的設備,如果實驗室中有這些設備,工程師無需太多操作,隻要正確(què)連接EUT就可以了,最重要的任務(wù)是監控EUT的工作方式。
如(rú)何進行近場測試
本文前麵的介紹部分講過,近場測試非常適合產品開發階(jiē)段。在這個階(jiē)段,標準測試方法或許能給出(chū)精確的結果,但卻(què)無法顯示問題的來源所在。在挑選元件時,有些控製器芯片的輻射要比其他芯片低40dB,或具有更高(gāo)的抗(kàng)擾度。即使(shǐ)在產品開發(fā)完成,執行兼容測試未通過之後,標準測試方法也幾乎(hū)無法給出有關問題來源的任何信息。在印製板一級,工程師們使用近場測試探針進行測量,也可(kě)能使用缺陷檢測器等。然而(ér)另一方麵也必(bì)須了解,近場測試探針(幾乎)不能給出有關(guān)設備傳導或輻射水平的任何信息,其誤差為20~40dB。但近場測試探針可以保證一點:每次使用時,其測量結果總要好於前述的各種測量。為了通過近場測試探針大致了解產品是否能通過EMC測試(shì),需要在(zài)已經確知結果的樣品上進行多次嚐(cháng)試。
圖4(a)和(b)是(shì)一(yī)些磁場探(tàn)針、電(diàn)場探針和一根管腳探針的例子。它們的優點是容易製作,外購也(yě)相當便(biàn)宜。它們都使用50Ω的電纜,並連接到一台(廉價的)頻譜分析儀。
近(jìn)場(chǎng)探針用來拾取電磁場的全部兩個分(fèn)量。雖(suī)然市場(chǎng)上有(yǒu)一些非常靈敏的電磁場場強儀,但電磁場的近場場強並不太容易測量。它們無法(fǎ)給出輻射噪聲頻率成分的任(rèn)何信息,但可以方便地指出“問(wèn)題分量"。近場探針在連接到頻譜分析儀時,還可給出頻率成(chéng)分信息。
磁場探針提供一個與磁射頻(pín)(RF)場強成比例的輸出電壓。利用這(zhè)個探針很容易找到電路的射頻源。不過,磁場的場強隨距離迅速變化(成三次方關係)。另外,探針的方向至關重要,因(yīn)為磁場方向一定(dìng)是垂直於磁環路的。前麵已經指(zhǐ)出,探針將不會給出太多的量化信息,但對於某個元件(IC、開關(guān)三極管等),隨著探(tàn)針距(jù)離(lí)元件越來越近,探針的電壓輸出也將增大。即使周圍有許多元件,通過研究原理圖,設計者也可以很容易地辨(biàn)認出(chū)噪聲源。如果工程師決定更換元件,他將很容易(yì)測量出更換後的結(jié)果,這(zhè)使得在開始時就選擇可靠(kào)的元件成為可能。
管(guǎn)腳探針允許直接在IC管腳或PCB的細(xì)導線上鑒別(bié)噪聲電壓。還能方便地判斷濾波器的(de)效果,盡管隻(zhī)是一種定性的判斷。探(tàn)針可以(yǐ)在濾波器(qì)的前、後分別進行接觸測量,並觀察其效果情況。但工程師必須(xū)正確估計(jì)接觸電容,並選擇電容較小(xiǎo)的探針(不大於(yú)10pF)。
電場探針可拾(shí)取共(gòng)模電壓和需要(yào)的信號。共模電壓是輻(fú)射電壓的一個重要來(lái)源。此外,磁場探針無法拾(shí)取電場。可以證明,使用全部三種探(tàn)針是有益和省時的。
本文介紹了擁有(yǒu)公司內部EMC測試設備的(de)優點和(hé)缺點。總體而言,除了設備成本、占用空間,以及可能的(de)人員培訓這些投入之外,擁有EMC能力並沒有什麽不利。無論如何,EMC技術在產品開發中必)不)可)少,公司必須以某種(zhǒng)方式進行這方麵的投資(如依靠第三方谘詢公司的服務(wù)),忽視它的代價將(jiāng)是高昂的。
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