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ESD原理詳解(一)

更新時間:2023-09-19      點擊次數:1572
ESD(Electro-Static discharge )是廣泛存在(zài)於你我身邊的(de)自然現象,小時候上自然課就學過摩擦生電。而靜電對於工業界(jiè)來說有時候是很頭疼的東(dōng)西,世()界.上.最(zuì)大的飛艇興登堡號就是因為靜(jìng)電原因墜(zhuì)毀的。隨著IC的規模(mó)越來越大,線寬越來(lái)越小,芯片也越來越嬌(jiāo)貴,EOS(Electrical Over Stress )失效問題也日益嚴重,而ESD是EOS失效(xiào)的主要原因,ESD防護也成為ICdesigner需(xū)要(yào)考慮的問(wèn)題,而其中模擬IC因為其自(zì)身特性,需要更加注重ESD防(fáng)護。
ESD防護在模擬IC設計中是很重(chóng)要的一環,但是國內IC企業很少有專人去負責(zé),所以本文將對ESD的原理和分類(lèi)進(jìn)行由淺(qiǎn)入深的總(zǒng)結,希望無論是IC設計人員還是硬件(jiàn)工程師都不需要去翻閱大量的資料,而對ESD有一個認知。
一.ESD的分類:
ESD按(àn)照發生階段主要分為兩類:
1.發生在芯片上PCB板(bǎn)前的(de)過程中(生產 、封(fēng)裝、運輸、銷售、上板)這類ESD事件完.()全需(xū)要(yào)由芯片自己承受。業界(jiè)對於這類ESD事(shì)件進行了分類主(zhǔ)要分為三種模型:HBM(Human body Model),MM(Machine Model),CDM(Charged Device Model),SDM(socket device Model),顧名(míng)思義(yì)HBM模型是仿真人體接觸模型(就(jiù)是憨(hān)憨用手直接摸芯片),MM模型仿真機械接觸,CDM模型是仿真芯片因為摩擦或者熱等(děng)原因內部集聚了電荷,然(rán)後通過探針或者封裝等途徑從(cóng)芯片內(nèi)部放電到外部(bù),起初CDM模型有兩種分類,其中(zhōng)一種是non-socket device Model,是在測試的時候探針直接紮入(rù)PAD,而另一種socket device Model是測試的時候把芯片放入一個基座然後探(tàn)針(zhēn)紮入基座,後(hòu)來這兩種方式(shì)的結果差距有些大(dà),就把SDM單獨拎出來(lái)了。目前還是以MIL-883作為主(zhǔ)流標準。
 2.芯片(piàn)已經在PCB上(shàng)電工作後發生的ESD事(shì)件。這類ESD事(shì)件主要包含:接觸放電,空(kōng)氣放電,熱插拔,浪湧這(zhè)幾種(zhǒng)。這類ESD事件普遍能量大,時間(jiān)久。但是與前一類最大的區別,這類PCB上電後的ESD事件,芯片可以靠外援,通過TVS或者ESD陣列芯片進行泄放,芯片本身(shēn)在外界的幫(bāng)助下可以不需要承受靜(jìng)電流。而這類ESD事(shì)件的詳規主(zhǔ)要在IEC61000-4-2和IEC61000-4-5中,目前國(guó)內硬件工程師主(zhǔ)要解決這方麵的ESD事件。
二.ESD的原理
不同的ESD產生的原理不同(tóng):
1.HBM模型。
HBM是目前片級ESD防護比較成熟的模型。通過建(jiàn)立人體放電模型,仿真人體無保護(hù)直接接觸芯片的(de)情況(kuàng)。


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                                        圖1.HBM放電模型

圖(tú)片

圖2.HBM放電波形

圖(tú)片

圖3.HBM等級

一般以電壓來表達HBM等級,不同的IC根據使用場景對於HBM等級有(yǒu)不同的要求。而隨(suí)著越來越規範(fàn)的生產製度,HBM模型造成(chéng)的失(shī)效(xiào)比例在(zài)一步步的降低。

圖片(piàn)

圖4.HBM測(cè)試模型(xíng)

2.MM模型。

MM與HBM模型相似,仿真的是機械設備接觸芯片的情況。

圖片(piàn)

圖5.MM放(fàng)電模型

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圖6.MM放電波形

圖(tú)片

圖7.MM放(fàng)電(diàn)等級

MM放電模型也隨著高度規(guī)範的生(shēng)產流程,慢慢淡出人們的視線。現在業界將HBM與MM進行整合,製定了HMM模型。

3.CDM模型 !!!!

這是本期的重點,因(yīn)為隨著IC規模越來越大,ESD失(shī)效中CDM的比重正在快速上升,尤其是數-模不同電壓域的芯片,更易發生CDM事件。

CDM的(de)場景是芯片因為摩擦或者其它原因在襯底內部集(jí)聚(jù)了很(hěn)多電荷,當在封裝或者測試時芯片引腳接觸到探針後(hòu)發生的放電事(shì)件。CDM放電(diàn)事件主要會對MOS器(qì)件的柵極造(zào)成損壞(huài),造成(dielectric failure)。CDM是三種模型(xíng)中最難處理的情況(kuàng),放電時(shí)間短,電流幅值大。放電路(lù)徑與HBM和MM有差異。

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圖8.CDM放電模型

圖(tú)片

圖9.CDM放(fàng)電模型


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圖10.CDM放電等級

CDM模型500V折算電流是10.4A。而且CDM的脈衝時(shí)間極短,大約~0.3ns達到電流最大(dà)值。

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圖11.CDM放電測試模(mó)型(xíng)

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